Nous présentons un coefficient de biréfringence à haute sensibilité et haute résolution
système de détermination de films membranaires au niveau nm basé sur une mesure faible,
résoudre le compromis sensibilité-résolution. Une lumière à bande passante réglable
la source est exploitée pour obtenir un élan complémentaire (Pointeur P) et l'intensité
(I-pointeur) mesures,permettant un fonctionnement sans étalonnage sur divers
bandes passantes, et pour réaliser une surveillance de différence de phase de haute précision du
membranes mesurées. Cette méthode mappe l'effet de biréfringence à une valeur faible
signal amplifié de décalage spectral et d'intensité lumineuse. La résolution optimale,
obtenu à une largeur spectrale de 6 nm, est $1.5 \fois 10^{-8}$ RIU, tandis que le
une sensibilité optimale est obtenue lorsque la source lumineuse a une largeur de ligne étroite
laser cohérent, atteindre 4710 mV/RIU. La plage linéaire du système couvre un
large plage de coefficients de biréfringence pour les cristaux,à partir de 10$^{-6}$ à 0.1.
En outre, le chemin optique auxiliaire élimine les interférences du substrat,
atteindre une limite de détection du coefficient de biréfringence aussi basse que
$10^{-8}$ RIU.Cette approche, caractérisé par une haute précision, haute sensibilité,
et une forte robustesse, fournit une solution efficace pour la détection de
paramètres de la membrane optique nano-mince.

Cet article explore les excursions dans le temps et leurs implications.

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