Nous mettons en œuvre une nouvelle approche expérimentale pour mesurer directement la durée de vie des
polaritons guidés résultant du couplage fort des excitons GaN et du
modes photoniques guidés d'un guide d'ondes en dalle. Utilisation d'une configuration d'imagerie de Fourier,
combiné à un filtrage spatial de l'émission, l'émission associée à
les modes polaritoniques avec des constantes de propagation bien définies peuvent être sélectivement
analysé dans le domaine temporel. En le dirigeant vers la fente d'entrée d'un
caméra à séquences, photoluminescence résolue dans le temps (TRPL) mesures le long du
La branche de dispersion des polaritons a été réalisée à 40 K, permettant d'évaluer le temps
désintégration des modes de polariton. En combinant ces informations avec
fraction photonique/excitonique correspondant à chaque mode de polariton, extrait
from a coupled-oscillators model that indicate a Rabi splitting of $\Omega$ =
80 moiV, we could extract the photon lifetime in the waveguide $\tau_\gamma\,
=\, 3\pm 1$ ps. Cela correspond à un facteur $Q$ record dans les UV de 16 000.
La durée de vie du réservoir excitonique, qui contribue à la formation du polariton, était
déterminé par des mesures TRPL sur la luminescence excitonique. Enfin,
les mesures effectuées à basse température mettent en évidence une alimentation secondaire
mécanismes pour le mode polaritonique guidé, soit via le recyclage des photons de
la couche de gaine AlGaN ou par injection résonante de photons provenant de
transitions en dessous de la bande interdite.

Cet article explore les excursions dans le temps et leurs implications.

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